产品搜索 Search
产品目录 Product catalog
- 新天测长仪
- 新天光学计
- IBB磁栅尺
- SPM磁栅尺
- GIVI磁栅尺
- INATECH/ATECK/系列
- SIKO磁栅尺
- ELGO系列磁栅尺
- DEEP数显表
- DEEP德普球栅尺
- NEWALL/雷尼威尔/Vulcan球栅尺
- 万濠投影仪CPJ
- 新天投影仪JT系列
- 新天影像仪视频测量仪
- 新天工具显微镜
- 怡信投影仪
- 长光机光栅数显表
- 万濠数显表
- 万濠光栅尺
- 新天光栅尺Sinpo
- 信和光栅尺SINO
- 七海光栅尺QH
- 怡信光栅尺easson
- 道尔光栅尺Delos
- 恒兴星HXX光栅尺
- 走刀器及其配件
- 编码器
- 台湾企宏
- 进口光栅尺
- 一体式磁栅数显
- 博望数显表
- 成都远山数显表
- 信号转换模块
- 发格光栅数显
- 意大利莱卡编码器
- 万濠刀具预调仪
- 硬度计
- 日本索尼Magnescale磁栅尺
- 三坐标测量机
- 台硕影像测量仪
- 万濠影像仪
- 怡信影像仪
- 万濠工具显微镜


销售电话:15806116186
售后服务:15806116186
销售传真:
公司邮箱:2743463118@qq.com
公司网站:www.czzwjd.com
办公地址:常州市新北区通江中路600号长江塑化市场22幢22-17

技术文章
精密仪器使用期间核查方法和结果判断
点击次数:969 发布时间:2018-10-27 返回
常用的期间核查方法包括:
1)使用高一等级的测量标准。期间核查不是再校准,但条件允许的情况下可以借鉴校准的方法。如多功能校准源可以用于漏电流测量仪、数字多用表等的核查。
2)使用仪器附带的校准设备。部分测量设备具备自校准功能,如电子天平的自带标准工作砝码等,可以用来进行核查。
3)测量设备之间的比对。有条件的实验室可以对同一参数采用不同设备测量进行比对,比对的方法包括多台比对法、两台比对法。
4)使用不同测试方法进行比对。如测量接地导体电阻可采用直接测量法,也可采用定义进行比对。
5)对保留样品的量值重新测量。只要保留的样品性能稳定,即可用来作为期间核查的核查标准。具体操作时可参考检测标准、检定规程等技术规范中有关的测试要求和方法,以及设备使用说明书、产品标准或供应商提供的方法。
核查频次
期间核查的实施频次应综合考虑检测仪器的特点,以及核查过程的难易、费时程度。一般在两次校准之间至少应安排一次核查,对使用较频繁或带到现场使用次数较多的设备可适当提高核查频次,性能不大稳定的或核查结果分析发现性能变差的设备应提高核查频次,开展重点项目检测前或对检测结果有疑义时亦可临时进行核查。
上一篇:万濠测高仪
下一篇:手摇脉冲发生器 电子手轮